Télécharger Le mémoire :

Titre: Caractérisation par Microscope à Force Atomique des nanoagrégats d’argent métallique formés sur substrat de silicium et sur des couches minces d’alumine

Domaine: Sciences de la matière (SM)

Filière: Physique

Option: Spectroscopie des matériaux solides

Auteur: TOUAA Zaza

Soutenu (e) le: 2006

Sous la direction de: M. GHAMNIA, Professeur, Université d’Oran

Le président du jury : N. ZEKRI, Professeur, USTO

Examinateur1: S. HAMZAOUI, Professeur, USTO

Examinateur2: M. BOUSLAMA, Professeur, ENSET d’Oran

Résumé:

La distribution de l’argent en surface est contrôlée essentiellement par microscope à force atomique. Afin de comprendre la croissance cristalline, il est nécessaire de rappeler les différentes techniques de formation des couches minces et de présenter les différents modes de croissance. Ces notions ont fait l’objet du premier chapitre. Les méthodes d’analyse et de caractérisation qui sont en général des techniques spectroscopiques, les notions de base des microscopes à champ proche (STM, AFM) sont développées dans le deuxième chapitre. Nous avons réservé le troisième chapitre à la préparation, à l’analyse par AFM des échantillons (Ag/Si et Ag/Al2O3/Si) et aussi au calcul de la dimension des nanoagrégats d’Ag par la méthode des fractales.


Mots clefs: Nanoagrégats; Silicium; Alumine; Spectroscopie; STM; AFM; Ag/Si; DRX; Méthode De Fractale.